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產(chǎn)品分類(lèi)

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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品名稱(chēng): Scios 2 DualBeam雙束電鏡
產(chǎn)品型號(hào): TFE000048
產(chǎn)品時(shí)間: 2020-06-29

客服熱線:4008005586

Thermo Scientifc ™ Scios ™ 2 DualBeam ™ 系統(tǒng)是一款超高分辨率分析系統(tǒng),可為類(lèi)型的樣品(包括磁性和不導(dǎo)電材料)提供出色的樣品制備和三維表征性能。Scios 2 DualBeam 系統(tǒng)創(chuàng)新性的功能設(shè)計(jì),優(yōu)化了其樣品處理能力、分析精度和易用性,是滿足科學(xué)家和工程師在學(xué)術(shù)、政府和工業(yè)研究環(huán)境中進(jìn)行高級(jí)研究和分析的理想解決方案。

產(chǎn)品介紹

Scios 2 DualBeam 系統(tǒng)的技術(shù)創(chuàng)新,結(jié)合易于使用、面的 ThermoScientific AutoTEM ™ 4軟件(可選)和專(zhuān)業(yè)的應(yīng)用知識(shí),可快速輕松地定位制備各類(lèi)材料的高分辨S/TEM樣品。 為了獲得高質(zhì)量的結(jié)果,需要使用低能離子進(jìn)行精拋,以大限度地減少樣品的表面損傷。 Thermo Scientific Sidewinder ™ HT聚焦離子束(FIB)鏡筒不僅可以在高電壓下提供高分辨率成像和刻蝕,而且具有良好的低電壓性能,可以制備高質(zhì)量的TEM薄片。ScientificTrinity ™ 檢測(cè)技術(shù)可同時(shí)采集角度和能量選擇性SE和BSE圖像。無(wú)論是將樣品豎直或傾斜放置進(jìn)行觀察,亦或者是觀察樣品截面,都可快速獲取詳細(xì)的納米級(jí)信息??蛇x配的透鏡下探測(cè)器和電子束減速模式可確??焖?、輕松地同時(shí)采集所有信號(hào),以顯示材料表面或截面中的小特征。依托*的NICol鏡筒設(shè)計(jì)和全自動(dòng)合軸功能,用戶可獲得快速、準(zhǔn)確且可重復(fù)的結(jié)果。

 

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 使用 Sidewinder HT離子鏡筒快速、簡(jiǎn)便地制備高質(zhì)量、定位TEM 和原子探針樣品。

• Thermo Scientific NICol ™ 電子鏡筒可進(jìn)行超高分辨率成像,滿足泛類(lèi)型樣品(包括磁性和不導(dǎo)電材料)成像需求。

• 各類(lèi)集成化鏡筒內(nèi)及極靴下探測(cè)器,采集優(yōu)質(zhì)、銳利、無(wú)荷電圖像,提供完整的樣品信息。

• 可選AS&V4軟件,精確定位感興趣區(qū)域,獲取優(yōu)質(zhì)、多模態(tài)內(nèi)部和三維信息。

• 高度靈活的110 mm樣品臺(tái)和內(nèi)置的Thermo Scientific Nav- Cam ™ 相機(jī)實(shí)現(xiàn)精確樣品導(dǎo)航。

• 的DCFI、漂移抑制技術(shù)和Thermo Scientific SmartScan ™等模式實(shí)現(xiàn)無(wú)偽影成像和圖形加工。

• 靈活的 DualBeam 配置,優(yōu)化解決方案滿足特定應(yīng)用需求。

 

參數(shù)

電子束

• 電子束流范圍:1pA–400nA

• 著陸能量范圍: 20* eV - 30 keV

• 加速電壓范圍:200 V - 30 kV

• 大水平視場(chǎng)寬度:7mm工作距離下為3.0mm,60mm工作距離下為7.0mm

• 導(dǎo)航蒙太奇功能可額外增大視場(chǎng)寬度

離子光學(xué)

• 大束流Sidewinder離子鏡筒

• 加速電壓范圍:500 V - 30 kV

• 離子束流范圍:1.5pA–65nA

• 15 孔光闌

• 標(biāo)配不導(dǎo)電樣品漂移抑制模式

• 離子源壽命至少1,000小時(shí)

• 離子束分辨率:30 kV下3.0 nm(采用選邊法)

探測(cè)器

• Trinity 探測(cè)系統(tǒng)(透鏡內(nèi)和鏡筒內(nèi))

 − T1 分割式透鏡內(nèi)低位探測(cè)器

 − T2 透鏡內(nèi)高位探測(cè)器

 − T3可伸縮鏡筒內(nèi)探測(cè)器*

 − 可同步檢測(cè)多達(dá)四種信號(hào)

• ETD–Everhart-Thornley 二次電子探測(cè)器

• ICE探測(cè)器 - 高性能離子轉(zhuǎn)換和電子探測(cè)器,用于采集二次電子和二次離子*

• DBS–可伸縮式低電壓、高襯度、分割式固態(tài)背散射電子探測(cè)器*

• STEM 3+–可伸縮分割式探測(cè)器(BF、DF、HAADF) *

• 樣品室紅外CCD相機(jī),用于樣品臺(tái)高度觀察

• Nav-Cam ™:樣品室內(nèi)彩色光學(xué)相機(jī),用于樣品導(dǎo)航*

樣品臺(tái)和樣品

• 靈活五軸電動(dòng)樣品臺(tái):

 -XY范圍:110mm

 - Z范圍:65mm

• 旋轉(zhuǎn):360°(連續(xù))

• 傾斜范圍:-15°到+90°

• XY重復(fù)精度:3μm

• 大樣品高度:與優(yōu)中心點(diǎn)間隔85mm

• 大樣品質(zhì)量(0°傾斜):2kg(包括樣品托)

• 大樣品尺寸:可沿X、Y軸*旋轉(zhuǎn)時(shí)直徑為110mm(若樣品超出此限值,則樣品臺(tái)行程和旋轉(zhuǎn)會(huì)受限)

• 同心旋轉(zhuǎn)和傾斜

• *無(wú)油的真空系統(tǒng)

• 樣品倉(cāng)真空(高真空):< 6.3 x 10 -6 mbar(72小時(shí)抽氣后)

• 抽氣時(shí)間:< 3.5 分鐘

• 可選低真空模式:樣品倉(cāng)真空可達(dá)500Pa

產(chǎn)品料號(hào)產(chǎn)品貨號(hào)*產(chǎn)品名稱(chēng)*產(chǎn)品規(guī)格
TFE000048TFE000048Scios 2 DualBeam雙束電鏡 Scios 2 DualBeam

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