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產(chǎn)品名稱: Prisma E 掃描電鏡產(chǎn)品型號: TFE000047產(chǎn)品時間: 2020-06-29
客服熱線:4008005586
Thermo Scientific ™ Prisma ™ E SEM 結(jié)合了全面的成像性能和*的環(huán)境模式,同時兼容廣泛的硬件和軟件選型,可滿足多用戶實驗室的綜合應(yīng)用需求。Prisma E SEM 的三種真空模式(高真空、低真空和 ESEM™)使得系統(tǒng)靈活性,可以容納任何 SEM 可用的泛的樣品類型,包括放氣的、未鍍導(dǎo)電膜的或者是與真空狀態(tài)不相容的樣品。
產(chǎn)品介紹
多種檢測器選項(定向背散射探測器、STEM、陰極熒光探測器等)提供了所有必要的樣品信息。探測器信號同步采集和顯示,可以在短的時間內(nèi)提供答案。此外,ESEM可以在現(xiàn)實條件下對樣品進(jìn)行原位研究,例如在濕潤、高溫、潮濕或反應(yīng)性環(huán)境中的樣品觀察。 Prisma E SEM 還包括一系列軟件集成的原位實驗臺,用于執(zhí)行和控制動態(tài)實驗。分析樣品倉可以滿足日益增長的樣品元素信息及晶體結(jié) 構(gòu)分析需求,它同時支持相對的雙能譜(EDS)探測器、共面能 譜(EDS) /電子背散射衍射(EBSD)和平行束波譜(WDS) 探測器。支持掃描預(yù)設(shè)、便捷的相機導(dǎo)航和Thermo ScientificSmartSCAN™,更進(jìn)一步提升了生產(chǎn)力、數(shù)據(jù)質(zhì)量和易用性。對于日常工作,Prisma E SEM可以使用強大的基于Python的腳本工具Autoscript自動執(zhí)行。
產(chǎn)品特點
• 在自然狀態(tài)下對材料進(jìn)行原位研究:在各種操作模式下分析導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品, 同步獲取二次電子像和背散射電子像。
• 縮短樣品制備時間:低真空和環(huán)境真空技術(shù)可針對不導(dǎo)電和/或含水樣品直接成像和分析,樣品表面無荷電累積。
• 觀察所有樣品獲取全面的信息,在每種操作模式下均可同時進(jìn)行SE和BSE成像。
• 原位分析配置專門的原位實驗臺,溫度范圍從-165℃到1400℃。
• 分析功能:大樣品倉可安裝3個EDS 探測器、WDS和共面EDS/EBSD,其中兩個EDS端口為180°正對。
• 不導(dǎo)電樣品分析功能:借助多級穿過透鏡的真空系統(tǒng),實現(xiàn)低真空下的高質(zhì)量EDS 和 EBSD 分析。
• 高精度優(yōu)中心樣品臺,105°傾斜角度范圍,觀察樣品。
• 軟件直觀、簡便易用,配置用戶向?qū)Ъ?nbsp;Undo(撤銷)功能,新手用戶可進(jìn)行高效操作,專家用戶也可進(jìn)行更少的操作,完成快速分析。
• 廣泛的配置選項,包括可伸縮的RGB CL陰極熒光探測器、1100℃ 高真空熱臺、μHeater 和Autoscript(基于Python的腳本工具API)。
參數(shù)
電子束
• 高真空成像
- 30 keV下 3.0 nm (SE)
- 30 keV下 4.0 nm(BSE)*
- 3 keV下 8.0 nm (SE)
• 高真空下,電子束減速模式
- 3 keV下7.0 nm (電子束減速模式* + DBS*)
• 低真空成像
- 30 keV下 3.0 nm (SE)
- 30 keV下 4.0 nm(BSE)
- 3 keV下 10.0 nm (SE)
• ESEM
- 30 keV下 3.0 nm (SE)
• 電子束流范圍:大 2 μA,連續(xù)可調(diào)
• 加速電壓范圍:200 V - 30 kV
• 放大倍數(shù) :6 – 1,000,000 倍
樣品倉
• 內(nèi)寬:340 mm
• 分析工作距離:10 mm
• 端口:12
• EDS 出射角:35°
• 可同時安裝三個 EDS 探測器,其中兩個處于180°
• 共面 EDS/EBSD ,與樣品臺傾斜軸垂直設(shè)定了預(yù)配置方法包括自定義方法和數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能的用戶友好軟件
• 通用 9 針電氣接口
真空系統(tǒng)
• 1個250 升/秒渦輪分子泵(TMP)
• “穿過透鏡”的壓差真空系統(tǒng)
• 電子束在氣體區(qū)域的行程(BGPL):10 mm 或 2 mm
• 典型換樣時間:高真空模式 ≤ 3.5 分鐘;環(huán)境真空模式≤4.5 分鐘
• 可選 CryoCleaner 冷阱
• 可選升級成無油機械泵(PVP)
產(chǎn)品料號 | 產(chǎn)品貨號 | *產(chǎn)品名稱 | *產(chǎn)品規(guī)格 |
TFE000047 | TFE000047 | Prisma E 掃描電鏡 | Prisma E |
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